紅外線氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

１．比爾定律 
    紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面．強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律) 
式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度；
          I0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度；
          K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)； 
          C--待分析組分的氣體濃度；
          L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)

２．分析檢測(cè)原理
      紅外線氣體分析儀由兩個(gè)獨(dú)立的光源分別產(chǎn)生兩束紅外線，該射線束分別經(jīng)過(guò)調(diào)制器，成為5Hz的射線。根據(jù)實(shí)際需要，射線可通過(guò)一濾光鏡減少背景氣體中其它吸收紅外線的氣體組分的干擾。